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AT新型检测系统C-CheckIR亮相无损检测论坛
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时间:2012-10-19 13:50:24

         2012年9月24-28日在西雅图举办的无损检测论坛(A4A NDT-Forum),吸引了不少技术人员、厂商与爱好者的前往,AT公司也同样受邀前往。AT公司建立于1998年,一直以来致力于为工业应用提供红外和3D图像处理系统,并为用户提供完善的系统解决方案。在此次论坛中,公司首次发布了新型移动检查系统C-CheckIR,该系统一经亮相便成功吸引了众多参会人士的关注。

        通过AT团队进行的详细介绍,可以了解到C-CheckIR是专门为复合材料检测和一流飞机制造商符合检测要求的几项检验程序研制的,比如空客特种加工55-40-50。同时,由于本次无损检测论坛首次与商业航空复合修复委员会(CACRC)联合举办的,因此论坛特别注重致力于有关新一代飞机(如,空客A350、波音787)的复合组件检测的问题。而恰恰C-CheckIR检查系统正是专门为此类任务研制开发的,这也正解释了为什么该系统会受到如此众多的高度关注。

        C-CheckIR检查系统基于有效的温度记录技术,小巧而且轻便,突出了其灵活的可操作性,也就意味着非专业人士也可以进行相关测量工作。C-CheckIR检查系统可设计用于野外移动检测,可有助于检测高可靠性分层、水包裹体、缺陷接头等等。

        以上是对AT新型检测系统C-CheckIR比较简短的介绍,如果需要更详细的了解,您可以在网站(www.C-CheckIR.com)上找到更多相关信息。例如如各种版本可用的C-CheckIR系统及不同分支的不同应用案例等。

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